Освещенность плоской поверхности измеряют при помощи люксметра. В этом приборе обычно применяют селеновый фотоэлемент, однако возможно использование и других полупроводников. Свет, попадающий на фотоэлемент, вызывает возникновение в нем слабого электрического тока, сила которого пропорциональна облучающему фотоэлемент световому потоку.
Этот ток может быть усилен, и его силу обычно измеряют при помощи микроамперметра с подвижной рамкой. Ток на выходе фотоэлемента зависит от частоты попадающего на него излучения.
Селен используют потому, что ток на выходе такого фотоэлемента достигает максимума при длине волны излучения 550-570 нм, а его чувствительность в целом аналогична чувствительности человеческого глаза.
В прибор также встраивают устройство, позволяющее изменять диапазон измерений, например сменные оптические фильтры или регулятор усиления.
Полное отклонение шкалы микроамперметра, градуированной в люксах, может составлять 50; 500; 5000 лк или 100; 200; 500; 1000 лк, однако возможна и иная комбинация. Люксметры с несколькими фотоэлементами применяют для исследования на модели.
При этом в точках пересечения сетки можно разместить до 12 фотоэлементов, подключенных к стрелочному прибору. С помощью переключателя можно быстро проверить значение освещенности по всему полю и построить полную картину распределения света.
Пространственное распределение света.
Распределение света в трехмерном пространстве можно выявить с помощью измерителя пространственной освещенности. Это прибор, измеряющий скалярную освещенность, величину вектора освещенности и его направление.